Ova datoteka je s projekta Vikimedijina ostava i može se upotrebljavati i na drugim projektima.
Ispod su prikazane informacije s njene opisne stranice.
Opis izmjene
OpisSilicium-atomes.png
English: Silicon atoms observed at the surface of a silicon carbide (SIC) crystal using a Scanning Tunneling Microscope (STM)
Français : Atomes de silicium observés à la surface d'un cristal de carbure de silicium (SiC) à l'aide d'un microscope à effet tunnel (STM)
Datum
Izvor
Image de microscopie à effet tunnel réalisée au lppm à Orsay
Autor
Guillaume Baffou
Licenciranje
Ja, vlasnik autorskog prava ovog djela, ovdje ga objavljujem pod sljedećim licencama:
Dopušteno je umnožavanje, dijeljenje i mijenjanje ovog dokumenta pod uslovima GNU-ove licence za slobodnu dokumentaciju, verzije 1.2 ili bilo koje novije koju objavi Fondacija za slobodni softver; bez nepromjenljivih odjeljaka i bez tekstova na naslovnoj i zadnjoj strani. Tekst licence možete pročitati ovdje.http://www.gnu.org/copyleft/fdl.htmlGFDLGNU Free Documentation Licensetruetrue
dijeliti – umnožavati, raspodjeljivati i prenositi djelo
prerađivati – prilagođavati djelo
Pod sljedećim uslovima:
pripisivanje – Morate pripisati odgovarajuće autorske zasluge, osigurati link ka licenci i naznačiti jesu li napravljene izmjene. To možete uraditi na bilo koji razumni način, ali ne tako da se sugerira da davalac licence odobrava Vas ili Vašu upotrebu njegovog djela.
dijeljenje pod istim uslovima – Ako mijenjate, transformišete ili nadograđujete ovaj materijal, morate ga objaviti i distribuirati samo pod istom ili sličnom licencom poput ove.
{{Information |Description={{en|1=Silicon atoms observed at the surface of a silicon carbide (SIC) crystal using a Scanning Tunneling Microscope (STM)}} {{fr|1=Atomes de silicium observés à la surface d'un cristal de carbure de silicium (SiC) à l'aide